Материаловедение
Представлен комплекс лабораторных и практических работ, позволяющий изучить взаимосвязь состава, строения, структуры и свойств различных материалов, а также закономерности их изменения под тепловым, химическим, механическим и другим воздействиями и дать оценку возможности использования этих материалов в практике.Для студентов вузов, обучающихся по инженерно-техническим специальностям и направлениям. Может быть полезен аспирантам и инженерам.
Содержание
Содержание книги "Материаловедение : практикум"
Отрывок из книги
46 Материаловедение: Практикум ренних напряжений в материале, которые часто приводят к дислокационным нарушениям и видимой трещиноватости. Цель лабораторной работы — определение параметров элементарной ячейки поликристаллических веществ и материалов с помощью рентгеновского структурного анализа. 1.1. Рентгеновский структурный анализ Рентгеновский структурный анализ — метод исследования волны я 1 А (10 нм), т.е. сопоставимой с размерами атомов. Кристаллические вещества обладают строгой периодичностью строения и представляют собой созданную самой природой дифракционную решетку для рентгеновского излучения. Ход двух пучков рентгеновских лучей через систему из двух атомных плоскостей в кристалле схематично изображен на рис. 2.1.1. Разность хода двух пучков равна 2Д. Так как Д = d sin 9, где d — расстояние между двумя соседними атомными плоскостями (межплоскостное расстояние), то разность хода равна 2Jsin8. Для образования конструктивной интерференции (т.е. для отражения пучков в одной фазе) разность хода должна равняться rik: где d — межплоскостное расстояние, А; к — длина волны рентгеновского излучения, А; 8 — угол падения (отражения) рентгеновских лучей, град.; п — порядок отражения (1, 2, 3, ...). 1. Метод испытаний Рис. 2.1.1. К выводу уравнения Вульфа — Брэгга атомной структуры вещества с использованием явления дифракции рентгеновских лучей. Дифракция рентгеновских лучей возникает при их взаимодействии с электронными оболочками атомов исследуемого вещества. Дифракционная картина зависит от длины волны используемого излучения и атомного строения объекта. Для исследования атомной структуры применяют излучение с длиной 2Jsin 8 = п X, (2.1.1)
Городниченко В. И. другие книги автора
Внимание!
При обнаружении неточностей или ошибок в описании книги "Материаловедение : практикум (автор Василий Городниченко, Борис Давиденко, Валерий Исаев, Светлана Ржевская, Игорь Шведов, Геннадий Янченко)", просим Вас отправить сообщение на почту help@directmedia.ru. Благодарим!
и мы свяжемся с вами в течение 15 минут
за оставленную заявку