Современная спектральная диагностика нанобиосистем и природных материалов

2828ности для исследования хрупких материалов и биологических объектов.полуконтактный режим (режим простукивания). режим рабо-ты атомно-силового микроскопа в полуконтактном режиме схож с бесконтактным режимом, за исключением того, что в нижней точке колебаний зонд соприкасается с поверхностью образца. в момент контакта на зонд действуют не только силы отталкива-ния, но и адгезионные, капиллярные и другие типы сил. взаи-модействие зонда с поверхностью приводит к изменению как ча-стоты, так и фазы колебаний кантилевера.кантилеверный датчик совершает колебания на своей резо-нансной частоте с большой амплитудой (от нескольких десят-ков до 100 нм), при этом контактируя с поверхностью образца. При приближении зонда к образцу наблюдается изменение резо-нансной частоты колебаний датчика и увеличение их затухания вследствие соударений с поверхностью, что приводит к сниже-нию частоты колебаний. система обратной связи поддерживает постоянную амплитуду колебаний датчика путем регулирования его вертикального положения. данные о вертикальных переме-щениях кантилевера используются для построения изображения поверхности образца.в случае неоднородной поверхности образца получение «фа-зового» изображения возможно благодаря различиям в фазовом сдвиге. распределение фазового сдвига по поверхности отражает распределение свойств материала образца. Метод фазового ото-бражения позволяет получать ценную информацию о свойствах материалов в широком спектре применений, выявляя в некото-рых случаях скрытые контрасты. в режиме «обстукивания» достигается атомное разрешение. При этом вероятность повреждения образца снижается по срав-нению с контактным режимом, поскольку давление зонда на не-сколько порядков меньше и он не задевает неровности поверх-ности. для успешного проникновения зонда сквозь слой воды и возвращения его на поверхность вертикальная сила должна превосходить капиллярные силы.данный метод находит применение в...