Определение кристаллической структуры по данным порошковой рентгеновской дифракции

Читать фрагмент

книга

Определение кристаллической структуры по данным порошковой рентгеновской дифракции

Автор: Алексей Михейкин, Николай Лянгузов

Практико-ориентированное руководство по определению неизвестных кристаллических структур методом порошковой рентгеновской дифракции. Пособие сочетает минимальный теоретический базис с детальными пошаговыми инструкциями для решения реальных задач. Читатель осваивает автоматическое индексирование дифрактограмм (DICVOL), извлечение интенсивностей пиков методом Ле Бейля, построение моделей кристаллической структуры в прямом пространстве (FOX), уточнение структур методом Ритвельда (FullProf) и подготовку кристаллографических информационных файлов (CIF). Первое издание по определению неизвестной структуры на русском языке, где фокус на работе с поликристаллическими образцами при отсутствии монокристаллов с разбором реальных примеров, готовые алгоритмы действий для каждого этапа с визуализацией. Для студентов, аспирантов и научных работников в области материаловедения, кристаллографии, химии и физики конденсированного состояния.

Форматы: PDF

Издательство: Южный федеральный университет

Год: 2025

Место издания: Ростов-на-Дону, Таганрог

ISBN: 978-5-9275-5000-5

Страниц: 168

Артикул: 115940

Возрастная маркировка: 16+

Электронная книга

249 ₽

Купить и скачать

Содержание

Содержание книги "Определение кристаллической структуры по данным порошковой рентгеновской дифракции "

Предисловие от авторов

Введение

Часть 1. ОСНОВНЫЕ ПОНЯТИЯ

Глава 1. Структура кристаллов и дифракционная картина

1.1. Основные понятия о структуре кристаллов

1.2. Решетки Бравэ

1.3. Пространственные группы симметрии и их обозначение

1.4. Атомные позиции

1.5. Алмаз и графит

Глава 2. Кристалографическое индицирование

2.1. Метод кристаллографического индицирования

2.2. Связь индексов Миллера семейств плоскостей и экспериментальной дифракционной картиной

2.3. Задача индицирования дифрактограммы

2.4. Квадратичные формы в прямом пространстве

2.5. Решение задачи индексирования

2.6. Критерий де Вольфа и F индекс

2.7. Проблема основной зоны

2.8. Производные решетки

2.9. Ошибки эксперимента

2.10. Метод последовательной дихотомии

Глава 3. Извлечение интегрированных интенсивностей из порошковых дифракционных данных

3.1. Метод Паули

3.2. Метод Ле Бэйля

3.3. Определение пространственной группы

Глава 4. Определение неизвестной кристаллической структуры

4.1. Классификация методов

4.2. Развитие методов в прямом пространстве

4.3. Основные принципы методов в прямом пространстве

4.4. Алгоритмы имитации отжига и параллельного темперирования

4.5. Генетический алгоритм

4.6. Последовательность действий для успешного нахождения модели структуры

Глава 5. Метод Ритвельда

Глава 6. Хранение и передача кристаллографических данных

Часть 2. ПРАКТИЧЕСКОЕ РУКОВОДСТВО

Глава 7. Этап первый. Первичная обработка дифракционной картины

7.1. Предварительный этап работы: отображение дифрактограммы

7.2. Автоматическое индексирование дифракционной картины

7.2.1 Структура командного файла для Dicvo

7.2.2. Автоматический способ извлечения положений дифракционных максимумов и генерация командного файла для Dicvol06

7.3. Извлечение данных о положении и интенсивности дифракционных максимумов

7.3.1. Интерактивный способ извлечения параметров профиля линии

7.4. Определение пространственной группы симметрии

Глава 8. Безмодельная полнопрофильная аппроксимация дифракционной картины по методу Ле Бейла

Глава 9. Нахождение начальной модели для неизвестной кристаллической структуры из порошковой дифракционной картины

Глава 10. Уточнение найденной кристаллической структуры вещества

Глава 11. Подготовка кристаллографического информационного файла к депонированию в базе данных

Заключение

Список цитируемых источников

Отрывок из книги

25Глава 1. Структура кристаллов и дифракционная картина 1.3. Пространственные группы симметрии и их обозначениеДля наглядности приведем таблицу 3, которая содержит всю ми-нимально необходимую информацию для описания кристаллической структуры поваренной соли. Как видно из таблицы, в первую очередь нужно указать пространственную группу симметрии для данной струк-туры и параметры элементарной ячейки. Так как у нас ячейка является кубической, то достаточно одного параметра – ребра куба.Таблица 3Информация, необходимая для описания кристаллической структурыПространственная группа Fm-3m (№ 225)Параметр элементарной ячейкиа = b = c = 5,64 Å; α = β = γ = 900Тип ионаxyzТепловой фактор ЗаселенностьCl00001Na0,50,50,501Пространственная группа симметрии содержит минимальный набор элементов симметрии, характерный для рассматриваемой эле-ментарной ячейки. Пространственных групп симметрии всего 230, их подробное описание с элементами симметрии можно найти в Между-народных таблицах для кристаллографов Том А [9], а также поясне-ния как их читать для людей, не являющихся кристаллографами [10]. В качестве международной нотации для пространственных групп сим-метрии используется обозначение Германа – Могена, которое описывает решетку и некоторые генераторы группы. Оно имеет сокращенную форму, называемую международным кратким символом, который наиболее часто используется в кристаллографии и обычно состоит из четырех символов:1. Первый символ указывает на центрирование решетки Браве (P, A, C, I, R или F).2. Следующие три символа описывают наиболее значимые операции симметрии, наблюдаемые при проекции вдоль основных направ-

Внимание!
При обнаружении неточностей или ошибок в описании книги "Определение кристаллической структуры по данным порошковой рентгеновской дифракции (автор Алексей Михейкин, Николай Лянгузов)", просим Вас отправить сообщение на почту help@directmedia.ru. Благодарим!