Кристаллография
Пособие составлено в соответствии с требованиями Федерального государственного образовательного стандарта высшего образования (ФГОС ВО 3++), в соответствии с рабочим учебным планом и рабочей программой дисциплины «Кристаллография». В нем представлены 10 лабораторных работ, содержащих краткие теоретические сведения по темам работ, методические указания по их выполнению, планы составления отчета, контрольные вопросы и задания и рекомендуемая литература.Предназначено для бакалавров, обучающихся по направлению подготовки бакалавров 28.03.02 Наноинженерия, по направленностям (профилям) «Диагностика материалов и наносистем в промышленности», «Нанотехнологии и наноматериалы».
Содержание
Содержание книги "Кристаллография : учебное пособие (лабораторный практикум) : направление подготовки 28.03.02 Наноинженерия"
Отрывок из книги
- 63 -Лабораторная работа 55. КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЕ СИМВОЛЫ ПЛОСКОСТЕЙЦель работы: Освоить основные правила установки в кри-сталлах семи сингоний, а также способы определения кристал-лографических символов плоскостей и направлений. Получить навыки определения кристаллографических осей на моделях кристаллических многогранников, нахождения единичной пло-скости, а также определения имеющихся в нем кристаллографи-ческих символов плоскостей и направлений. В результате выполнения лабораторной работы студенты должны:• знать: правила кристаллографической установки, назна-чения единичных граней для разных видов сингоний• уметь: выполнять кристаллографическую установку кристалла в зависимости от сингонии модели кристалли-ческого многогранника.• владеть: навыками выбора единичной грани, определе-ния символов всех действительных граней и ребер и их обозначения на гномостереграфической модели кристал-лического многогранника.Теоретическая частьКристаллографический символ плоскости представляет со-бой совокупность индексов Миллера h, k, l, взятую в круглые скобки – (hkl). Индексы Миллера – взаимно простые целые числа, обратно про-порциональные отрезкам, которые данная плоскость отсекает на кристаллографических осях, если эти отрезки измерены особыми масштабными единицами. За единицы измерения по осям принима-ются отрезки, отсекаемые так называемой единичной плоскостью. Единичной плоскостью называется плоскость, которая пере-секает три кристаллографические оси на расстояниях (от начала координат), равных периодам повторяемости , ,a b c или параме-трам a, b, c конечной кристаллической фигуры (кристаллическо-го многогранника, элементарной ячейки).
Внимание!
При обнаружении неточностей или ошибок в описании книги "Кристаллография : учебное пособие (лабораторный практикум) : направление подготовки 28.03.02 Наноинженерия (автор )", просим Вас отправить сообщение на почту help@directmedia.ru. Благодарим!
и мы свяжемся с вами в течение 15 минут
за оставленную заявку