Растровая электронная микроскопия как инструмент решения инженерных задач в сварке

Читать фрагмент

книга

Растровая электронная микроскопия как инструмент решения инженерных задач в сварке

Автор: Павел Бахматов, Владимир Григорьев, Анна Калугина

Приведены сведения об основах и принципах проведения растровой электронной микроскопии. Описаны основные функциональные возможности Hitachi 3400N. Показаны результаты научных исследований в решении инженерных задач с применением растрового электронного микроскопа: качественный анализ распределения легирующих элементов как по плоскости сканируемого образца, так и по заданному направлению, фрактография, диффузионные слои в сварных соединениях, изучение поверхности свариваемых кромок и сварочной проволоки, причин порообразования в металле шва и другое. Включены как обобщение многочисленных публикаций в отечественной и зарубежной специализированной литературе, так и собственные исследования авторов.Для студентов, магистров, аспирантов технических университетов и институтов, а также специалистов НИИ, КБ, предприятий авиационно-космического комплекса. Материалы книги могут служить основой для разработки технологических рекомендаций, стандартов, определяющих содержание учебных планов, учеб

Форматы: PDF

Издательство: Инфра-Инженерия

Год: 2024

Место издания: Москва, Вологда

ISBN: 978-5-9729-2061-7

Страниц: 148

Артикул: 116318

Возрастная маркировка: 16+

Электронная книга

1240 ₽

Купить и скачать

Содержание

Содержание книги "Растровая электронная микроскопия как инструмент решения инженерных задач в сварке "

ВВЕДЕНИЕ

ГЛАВА 1. ПРИНЦИПЫ РАСТРОВОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ

1.1. Растровая электронная микроскопия

1.2. Применение РЭМ для исследования структуры материалов

1.2.1. Формирование изображения в РЭМ

1.2.2. Детекторы РЭМ

1.2.3. Режимы высокого и низкого давления

1.2.4. Рентгеноспектральный микроанализ

1.2.5. Подготовка образцов

1.2.6. Примеры исследования структуры материалов

Вопросы для самоконтроля

ГЛАВА 2. РАСТРОВЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП HITACHI 3400N

2.1. Органы управления, которыми оснащена основная часть прибора

2.1.1. Основная часть прибора

2.1.2. Столик для образца

2.1.3. Панель, соответствующая откачке

2.1.4. Система, создающая разрежение

2.1.5. Панель с контакторами

2.2. Органы управления, используемые отсеком с экраном

2.2.1. Отсек с экраном

2.2.2. Персональная вычислительная машина

2.2.3. Пульт, используемый для ручного управления

2.2.4. Мышь и шаровой манипулятор

2.3. Основные элементы колонны микроскопа

2.3.1. Обслуживание передвижной апертуры линзы объектива

2.3.2. Техническое обслуживание узла с диафрагмой

2.3.3. Техническое обслуживание конденсорной апертуры

2.3.4. Чистка апертурных пластинок

Вопросы для самоконтроля

ГЛАВА 3. ЭКСПЛУАТАЦИЯ

3.1. Запуск системы

3.1.1. Соответствующие запуску действия

3.2. Установка образца

3.2.1. Выбор способа подготовки образца соответственно исследуемому виду материала

3.2.2. Установка образца на столик

3.2.3. Установка держателя образца

3.2.4. Измерение и указание высоты образца

3.2.5. Смещение столика в положение, соответствующее замене образца

3.2.6. Загрузка образца

3.3. Подача ускоряющего напряжения

3.3.1. Настройка ускоряющего напряжения и тока через нить накала

3.4. Настройка электронной оптики

3.4.1. Установка параметров, соответствующих работе электронной оптики

3.4.2. Подстройка положения по осям

3.5. Операции, соответствующие просмотру изображения

3.5.1. Выбор детектора

3.5.2. Выбор степени увеличения

3.5.3. Информация о пользовании минимально возможной степенью увеличения и о просмотре проводящих ток образцов при малом увеличении

3.5.4. Выбор скорости сканирования

3.5.5. Подстройка яркости и контраста

3.5.6. Фокусирование и устранение астигматизма

3.5.7. Управление столиком

3.6. Сохранение и регистрация изображений

3.6.1. Сохранение и регистрация изображений

3.6.2. Подготовках регистрации изображений

3.6.3. Захват изображений

3.6.4. Сохранение отсканированного изображения

3.6.5. Сохранения захваченных изображений

3.7. Выключение

3.7.1. Снятие высокого напряжения

3.7.2. Установка столика в положение, соответствующее замене образца

3.7.3. Удаление образца

3.7.4. Прекращение пользования программной оболочкой Windows

3.7.5. То, что нужно сделать при выключении электронного микроскопа

3.8. Прочие функции

3.8.1. Функция Data Entry (ввод данных)

3.8.2. Получение перспективного изображения

3.9. Пользование обслуживающей программой SEM Data Manager

3.9.1. Перечни функций и клавиши

Вопросы для самоконтроля

ГЛАВА 4. ПРИМЕРЫ ИСПОЛЬЗОВАНИЯ РЭМ ДЛЯ РЕШЕНИЯ ИНЖЕНЕРНЫХ ЗАДАЧ

4.1. Оценка поверхности сварочной проволоки

4.2. Исследование причин порообразования сварных соединений алюминиевых сплавов

4.3. Исследование причин порообразования сварных соединений при использовании операции анодирования

4.4. Исследование причин порообразования сварных соединений при использовании операции опескоструивания

4.5. Исследование причин порообразования при автоматической сварке титановых элементов

4.6. Исследование изломов сварных соединений

4.7. Исследование кратера, полученного после спектрального анализа

4.8. Исследование эволюции структуры материала приконтактного объема неразъемного соединения, полученного в условиях холодной тугой посадки системы «втулка-вал» из сплава ОТ4-1

4.9. Общие выводы

СПИСОК ИСПОЛЬЗОВАННЫХ ИСТОЧНИКОВ

Отрывок из книги

12 ɧɟɧɢɟ ɩɨɜɟɪɯɧɨɫɬɧɨɝɨ ɡɚɪɹɞɚ ɢɡɦɟɧɹɟɬ ɜɵɯɨɞ ɜɬɨɪɢɱɧɵɯ ɷɥɟɤɬɪɨɧɨɜ, ɫɧɢɠɚɟɬ ɪɚɡɪɟɲɚɸɳɭɸ ɫɩɨɫɨɛɧɨɫɬɶ ɢ ɢɫɤɚɠɚɟɬ ɢɡɨɛɪɚɠɟɧɢɟ. Ɂɚɪɹɞɤɢ ɧɟɩɪɨɜɨɞɹɳɢɯ ɨɛɪɚɡɰɨɜ ɦɨɠɧɨ ɢɡɛɟɠɚɬɶ, ɢɫɩɨɥɶɡɭɹ ɧɢɡɤɨɟ ɧɚɩɪɹɠɟɧɢɟ ɩɭɱɤɚ ɢɥɢ ɩɨɤɪɵɜɚɹ ɨɛɪɚɡɟɰ ɬɨɧɤɨɣ ɩɪɨɜɨɞɹɳɟɣ ɩɥɟɧɤɨɣ. ȿɳɟ ɨɞɧɨ ɬɪɟɛɨɜɚɧɢɟ, ɫɨɫɬɨɢɬ ɜ ɬɨɦ. ɱɬɨ ɪɚɡɦɟɪ ɨɛɪɚɡɰɚ ɨɝɪɚɧɢɱɟɧ ɪɚɡɦɟɪɨɦ ɨɛɴɟɤɬɨɞɟɪɠɚɬɟɥɹ, ɤɨɬɨɪɵɦ ɨɫɧɚɳɟɧ ɩɪɢ-ɛɨɪ. Ⱦɢɚɦɟɬɪ ɨɛɴɟɤɬɨɞɟɪɠɚɬɟɥɟɣ ɊɗɆ ɫɨɫɬɚɜɥɹɟɬ 150 ɦɦ. ɜɵɫɨɬɚ ɧɟ ɛɨɥɟɟ 100 ɦɦ. Ɇɨɝɭɬ ɛɵɬɶ ɢɫɫɥɟɞɨɜɚɧɵ ɨɛɪɚɡɰɵ ɥɸɛɵɯ ɦɟɧɶɲɢɯ ɪɚɡɦɟɪɨɜ. ɜ ɬɨɦ ɱɢɫɥɟ ɦɟɧɟɟ 1 ɦɦ (ɦɢɤɪɨɧɧɚɹ ɩɪɨɜɨɥɨɤɚ, ɥɟɧɬɚ, ɩɨɪɨɲɤɢ ɢ ɞɪ.). Ʉɪɨɦɟ ɷɬɢɯ ɬɪɟɛɨɜɚɧɢɣ, ɨɛɪɚɡɰɵ ɞɨɥɠɧɵ ɛɵɬɶ ɫɬɚɛɢɥɶɧɵ ɜ ɭɫɥɨɜɢɹɯ ɜɚɤɭɭɦɚ ɢ ɩɨɞ ɞɟɣ-ɫɬɜɢɟɦ ɷɥɟɤɬɪɨɧɧɨɝɨ ɩɭɱɤɚ. Ɉɧɢ ɧɟ ɞɨɥɠɧɵ ɢɦɟɬɶ ɨɫɬɚɬɤɨɜ ɨɪɝɚɧɢɱɟɫɤɢɯ ɜɟ-ɳɟɫɬɜ ɬɢɩɚ ɦɚɫɥɚ ɢ ɠɢɪɚ. Ɉɪɝɚɧɢɱɟɫɤɢɟ ɧɟɠɟɥɚɬɟɥɶɧɵɟ ɤɨɦɩɨɧɟɧɬɵ ɭɞɚɥɹɸɬɫɹ ɫ ɩɨɦɨɳɶɸ ɩɟɪɦɚɧɝɚɧɚɬɚ ɤɚɥɢɹ ɢɥɢ ɩɟɪɟɤɢɫɢ ɜɨɞɨɪɨɞɚ. Ʉɚɪɛɨɧɚɬɵ ɭɞɚɥɹɸɬɫɹ ɫ ɩɨɦɨɳɶɸ ɫɨɥɹɧɨɣ ɤɢɫɥɨɬɵ, ɨɤɫɢɞɵ ɠɟɥɟɡɚ – ɫ ɩɨɦɨɳɶɸ ɯɥɨɪɢɞɚ ɨɥɨɜɚ (II), ɚ ɭɝɥɟɜɨɞɨɪɨɞɵ ɦɨɝɭɬ ɛɵɬɶ ɭɞɚɥɟɧɵ ɪɚɫɬɜɨɪɢɬɟɥɟɦ ɬɪɢɯɥɨɪɷɬɚɧ. ɉɪɢ ɪɟɡɤɟ ɨɛɪɚɡɰɨɜ ɞɥɹ ɢɫɫɥɟɞɨɜɚɧɢɹ ɧɚ ɊɗɆ ɩɨɞ ɬɪɟɛɭɟɦɵɣ ɪɚɡɦɟɪ ɧɟɨɛɯɨɞɢɦɨ ɢɡɛɟɝɚɬɶ ɧɚɝɪɟɜɚ ɢ ɡɚɝɪɹɡɧɟɧɢɣ ɢɫɫɥɟɞɭɟɦɨɣ ɩɨɜɟɪɯɧɨɫɬɢ. ȼ ɷɬɨɦ ɫɥɭɱɚɟ ɩɨɜɟɪɯɧɨɫɬɶ, ɩɨɞɥɟɠɚɳɚɹ ɢɫɫɥɟɞɨɜɚɧɢɸ, ɬɳɚɬɟɥɶɧɨ ɡɚɤɪɵɜɚɟɬɫɹ ɮɨɥɶ-ɝɨɣ. ȼɨ ɢɡɛɟɠɚɧɢɟ ɧɚɝɪɟɜɚ ɪɟɡɤɚ ɩɪɨɢɡɜɨɞɢɬɫɹ ɦɟɞɥɟɧɧɨ, ɫ ɨɫɬɚɧɨɜɤɚɦɢ, ɩɪɢ ɦɟɧɹɟɬɫɹ ɨɯɥɚɠɞɟɧɢɟ ɜɨɞɨɣ ɢɥɢ ɷɦɭɥɶɫɢɟɣ. ɉɨɫɥɟ ɪɟɡɤɢ ɫɥɟɞɵ ɷɦɭɥɶɫɢɢ ɢɥɢ ɜɥɚɝɢ ɭɞɚɥɹɸɬɫɹ, ɡɚɬɟɦ ɮɨɥɶɝɚ ɫɧɢɦɚɟɬɫɹ, ɨɛɪɚɡɟɰ ɩɪɨɦɵɜɚɟɬɫɹ ɜ ɫɩɢɪɬɟ ɢɥɢ ɚɰɟɬɨɧɟ ɢ ɨɛɞɭɜɚɟɬɫɹ ɫɠɚɬɵɦ ɜɨɡɞɭɯɨɦ ɞɨ ɩɨɥɧɨɝɨ ɭɞɚɥɟɧɢɹ ɠɢɞɤɨɫɬɢ. Ɋɟɤɨ-ɦɟɧɞɭɟɬɫɹ ɢɫɫɥɟɞɨɜɚɬɶ ɢɡɥɨɦɵ ɧɟɩɨɫɪɟɞɫɬɜɟɧɧɨ ɩɨɫɥɟ ɪɚɡɪɭɲɟɧɢɹ. ɉɪɢ ɢɡɭɱɟɧɢɢ ɫɬɪɭɤɬɭɪɵ ɩɨɱɜɵ ɜ ɊɗɆ ɬɪɟɛɭɟɬɫɹ, ɱɬɨɛɵ ɠɢɞɤɨɫɬɶ, ɤɨɬɨ-ɪɚɹ ɫɨɞɟɪɠɢɬɫɹ ɜ ɜɢɞɟ ɜɨɞɧɨɝɨ ɪɚɫɬɜɨɪɚ, ɛɵɥɚ ɭɞɚɥɟɧɚ ɢɡ ɨɛɪɚɡɰɚ. Ɍɪɟɛɭɟɬɫɹ ɜɵɫɭɲɢɬɶ ɨɛɪɚɡɟɰ, ɧɟ ɧɚɪɭɲɚɹ ɟɝɨ ɢɫɯɨɞɧɨɣ ɫɬɪɭɤɬɭɪɵ, ɧɚɢɛɨɥɟɟ ɩɪɨɫɬɵɦɢ ɫɩɨɫɨɛɚɦɢ ɹɜɥɹɸɬɫɹ ɫɭɲɤɚ ɜ ɩɟɱɢ ɢ ɫɭɲɤɚ ɧɚ ɜɨɡɞɭɯɟ. Ȼɢɨɥɨɝɢɱɟɫɤɢɟ ɨɛɪɚɡɰɵ ɧɟɨɛɯɨɞɢɦɨ ɩɪɨɩɢɬɚɬɶ ɬɤɚɧɢ ɷɬɚɧɨɥɨɦ, ɦɟɬɚɧɨ-ɥɨɦ ɢɥɢ ɚɰɟɬɨɧɨɦ ɫ ɜɨɡɪɚɫɬɚɸɳɟɣ ɤɨɧɰɟɧɬɪɚɰɢɟɣ ɢ ɩɪɢ ɤɪɢɬɢɱɟɫɤɨɣ ɬɨɱɤɟ, ɥɢɛɨ ɥɢɨɮɢɥɶɧɨ ɫɭɲɢɬɶ ɩɪɢ ɧɢɡɤ...

Внимание!
При обнаружении неточностей или ошибок в описании книги "Растровая электронная микроскопия как инструмент решения инженерных задач в сварке (автор Павел Бахматов, Владимир Григорьев, Анна Калугина)", просим Вас отправить сообщение на почту help@directmedia.ru. Благодарим!

Растровая электронная микроскопия как инструмент решения инженерных задач в сварке

Содержание

Отрывок из книги

Бахматов П. В. другие книги автора

С книгой "Растровая электронная микроскопия как инструмент решения инженерных задач в сварке" читают