Растровая электронная микроскопия как инструмент решения инженерных задач в сварке

Содержание книги "Растровая электронная микроскопия как инструмент решения инженерных задач в сварке "

ВВЕДЕНИЕ
ГЛАВА 1. ПРИНЦИПЫ РАСТРОВОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ
1.1. Растровая электронная микроскопия
1.2. Применение РЭМ для исследования структуры материалов
1.2.1. Формирование изображения в РЭМ
1.2.2. Детекторы РЭМ
1.2.3. Режимы высокого и низкого давления
1.2.4. Рентгеноспектральный микроанализ
1.2.5. Подготовка образцов
1.2.6. Примеры исследования структуры материалов
Вопросы для самоконтроля
ГЛАВА 2. РАСТРОВЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП HITACHI 3400N
2.1. Органы управления, которыми оснащена основная часть прибора
2.1.1. Основная часть прибора
2.1.2. Столик для образца
2.1.3. Панель, соответствующая откачке
2.1.4. Система, создающая разрежение
2.1.5. Панель с контакторами
2.2. Органы управления, используемые отсеком с экраном
2.2.1. Отсек с экраном
2.2.2. Персональная вычислительная машина
2.2.3. Пульт, используемый для ручного управления
2.2.4. Мышь и шаровой манипулятор
2.3. Основные элементы колонны микроскопа
2.3.1. Обслуживание передвижной апертуры линзы объектива
2.3.2. Техническое обслуживание узла с диафрагмой
2.3.3. Техническое обслуживание конденсорной апертуры
2.3.4. Чистка апертурных пластинок
Вопросы для самоконтроля
ГЛАВА 3. ЭКСПЛУАТАЦИЯ
3.1. Запуск системы
3.1.1. Соответствующие запуску действия
3.2. Установка образца
3.2.1. Выбор способа подготовки образца соответственно исследуемому виду материала
3.2.2. Установка образца на столик
3.2.3. Установка держателя образца
3.2.4. Измерение и указание высоты образца
3.2.5. Смещение столика в положение, соответствующее замене образца
3.2.6. Загрузка образца
3.3. Подача ускоряющего напряжения
3.3.1. Настройка ускоряющего напряжения и тока через нить накала
3.4. Настройка электронной оптики
3.4.1. Установка параметров, соответствующих работе электронной оптики
3.4.2. Подстройка положения по осям
3.5. Операции, соответствующие просмотру изображения
3.5.1. Выбор детектора
3.5.2. Выбор степени увеличения
3.5.3. Информация о пользовании минимально возможной степенью увеличения и о просмотре проводящих ток образцов при малом увеличении
3.5.4. Выбор скорости сканирования
3.5.5. Подстройка яркости и контраста
3.5.6. Фокусирование и устранение астигматизма
3.5.7. Управление столиком
3.6. Сохранение и регистрация изображений
3.6.1. Сохранение и регистрация изображений
3.6.2. Подготовках регистрации изображений
3.6.3. Захват изображений
3.6.4. Сохранение отсканированного изображения
3.6.5. Сохранения захваченных изображений
3.7. Выключение
3.7.1. Снятие высокого напряжения
3.7.2. Установка столика в положение, соответствующее замене образца
3.7.3. Удаление образца
3.7.4. Прекращение пользования программной оболочкой Windows
3.7.5. То, что нужно сделать при выключении электронного микроскопа
3.8. Прочие функции
3.8.1. Функция Data Entry (ввод данных)
3.8.2. Получение перспективного изображения
3.9. Пользование обслуживающей программой SEM Data Manager
3.9.1. Перечни функций и клавиши
Вопросы для самоконтроля
ГЛАВА 4. ПРИМЕРЫ ИСПОЛЬЗОВАНИЯ РЭМ ДЛЯ РЕШЕНИЯ ИНЖЕНЕРНЫХ ЗАДАЧ
4.1. Оценка поверхности сварочной проволоки
4.2. Исследование причин порообразования сварных соединений алюминиевых сплавов
4.3. Исследование причин порообразования сварных соединений при использовании операции анодирования
4.4. Исследование причин порообразования сварных соединений при использовании операции опескоструивания
4.5. Исследование причин порообразования при автоматической сварке титановых элементов
4.6. Исследование изломов сварных соединений
4.7. Исследование кратера, полученного после спектрального анализа
4.8. Исследование эволюции структуры материала приконтактного объема неразъемного соединения, полученного в условиях холодной тугой посадки системы «втулка-вал» из сплава ОТ4-1
4.9. Общие выводы
СПИСОК ИСПОЛЬЗОВАННЫХ ИСТОЧНИКОВ