- 30 %
Спектроскопия: монография

Автор: Бёккер Ю.

Год: 2009

Издательство: РИЦ "Техносфера"

Место издания: Москва

ISBN: 978-5-94836-220-5

Страниц: 528

Форматы: PDF

цена:
299
209,3 руб.

Спектроскопия ядер, атомов, ионов и молекул принадлежит сегодня к группе важнейших и наиболее распространенных методов инструментальной аналитики. Высокотехнологичные эмиссионные, абсорбционные и флуоресцентные спектрометры обеспечивают точное определение качественного и количественного состава газообразных, жидких и твердых веществ, позволяют изучать поверхностные слои материалов, проводить локальный и послойный анализ.
В настоящей монографии дается обзор различных современных методов ядерной, атомной, ионной и молекулярной спектрометрии, а также приборов, реализующих эти методы. Рассматриваются многие аналитические проблемы, решаемые в лабораториях промышленных предприятий, в естественнонаучных и технических учреждениях, а также вопросы изучения и защиты объектов окружающей среды.

Предисловие
От автора
Глава 1. Введение
1.1. Историческая справка
1.2. Преимущества инструментальной аналитики
1.3. Спектроскопия
1.4. «Ничто»: как его найти
1.5. Тенденции развития аналитики объектов окружающей среды
Глава 2. Взаимодействие между светом и материей
2.1. Внутренние и внешние взаимодействия
2.2. Абсорбционная и эмиссионная спектроскопия
2.3. Атомная и молекулярная спектроскопия
2.4. Условия возбуждения
2.5. Классификация областей спектра
2.6. Измерительные системы спектроскопии
2.7. Количественный и качественный анализы
2.8. Традиционный спектрометр
Глава 3. Спектроскопия в УФ- и видимой областях спектра
3.1. Классификация электронных переходов
3.2. Теоретический расчет электронных переходов
3.3. Разрешенные и запрещенные переходы
3.4. Принцип измерения
3.5. Измерение спектра
3.6. Определение концентрации по окраске
3.7. Многокомпонентный анализ
3.8. Измерение по принципу двойной длины волн
3.9. Разностные спектры
3.10. Производные спектры
3.11. Требования к современному спектрометру
3.12. Диодные матрицы в спектроскопии УФ- и видимой областей
3.13. Сопряжение со световодами
3.14. Экспресс-тесты при исследовании воды
3.15. Резюме и перспективы развития спектроскопии УФ- и видимой областей
Глава 4. Флуорометрия
4.1. Теоретические основы люминесценции
4.2. Флуоресценция
4.3. Фосфоресценция
4.4. Параметры измерения при флуорометрии
4.5. Флуоресцентные спектрометры
4.6. Носители (держатели) проб
4.7. Влияние температуры
4.8. Флуоресценция, индуцированная лазерным излучением
4.9. Флуорометрия с разрешением во времени
4.10. Резюме и перспективы развития флуорометрии
Глава 5. ИК-спектроскопия
5.1. Историческая справка
5.2. Принцип ИК-спектроскопии
5.3. ИК-спектр
5.4. Интерпретация спектров
5.5. Приборы и оборудование для регистрации ИК-спектров
5.6. Методы подготовки образцов
5.7. ИК-спектроскопия отражения
5.8. Фотоакустическая детектция
5.9. ИК-микроскопия
5.10. Совместное применение аналитических методов
5.11. Применение ЭВМ в ИК-спектроскопии
5.12. Резюме и перспективы развития ИК-спектроскопии
Глава 6. Спектроскопия в ближней ИК-области
6.1. Различия в спектроскопии ближней и средней ИК-области
6.2. Спектрометр для ближней ИК-области
6.3. Практическое применение спектроскопии в ближней ИК-области
6.4. Резюме и перспективы развития спектроскопии в ближней ИК-области
Глава 7. Спектроскопия комбинационного рассеяния
7.1. Теоретические основы спектроскопии комбинационного рассеяния
7.2. Правила отбора
7.3. Спектрометр комбинационного рассеяния
7.4. Практическое применение спектроскопии комбинационного рассеяния
7.5. Резюме и перспективы развития спектроскопии комбинационного рассеяния
Глава 8. Микроволновая спектроскопия
8.1. Теория вращательных спектров
8.2. СВЧ-спектрометр
8.3. Практическое применение микроволновой спектроскопии
8.4. Резюме и перспективы развития микроволновой спектроскопии
Глава 9. Атомно-абсорбционная спектроскопия
9.1. Историческая справка
9.2. Общая характеристика метода
9.3. Линейчатый спектр
9.4. Атомно-абсорбционный спектрометр
9.5. Лампы с полым катодом
9.6. Процесс атомизации
9.7. Помехи
9.8. Фоновая абсорбция
9.9. Аппаратурное оформление процесса
9.10. Проточно-инжекционный анализ в атомно-абсорбционной спектрометрии
9.11. Оснащение лаборатории атомно-абсорбционной спектрометрии
9.12. Резюме и перспективы развития атомно-абсорбционной спектроскопии
Глава 10. Атомно-флуоресцентная спектрометрия
Глава 11. Атомная спектрометрия с плазмами
11.1. Теоретические основы метода
11.2. Образование плазмы
11.3. Состав атомно-эмиссионого спектрометра с ИСП
11.4. Оборудование для работы с ИСП
11.5. Помехи при оптической эмиссионной ИСП-спектрометрии
11.6. Стандартные растворы для атомно-эмиссионной спектрометрии
11.7. Гидридная система
11.8. Анализ твердых образцов
11.9. Выбор спектрометра для элементного анализа
11.10. Плазменная масс-спектрометрия
11.11. Резюме и перспективы развития плазменной атомной спектрометрии
Глава 12. Масс-спектрометрия
12.1. Теоретические основы метода
12.2. Природа масс-спектра
12.3. Образование ионов
12.4. Масс-спектрометры
12.5. Резюме и перспективы развития масс-спектрометрии
Глава 13. Спектроскопия ядерного магнитного резонанса
13.1. Теоретические основы ЯМР-спектроскопии
13.2. Химический сдвиг
13.3. Спин-спиновое взаимодействие
13.4. Регистрация ЯМР-спектров
13.5. ЯМР-спектрометры
13.6. Техника двойного резонанса
13.7. Двухмерная ЯМР-спектроскопия
13.8. Ядерный эффект Оверхаузера
13.9. Практическое применение ЯМР-спектроскопии
13.10. Резюме и перспективы развития ЯМР-спектроскопии
Глава 14. Рентгенофлуоресцентный анализ
14.1. Понятие рентгеновской флуоресценции
14.2. Теоретические основы метода
14.3. Характеристические спектральные линии
14.4. Закон Мозли
14.5. Возбуждение
14.6. Поглощение рентгеновских лучей
14.7. Рентгеновская трубка
14.8. Рентгеновские спектрометры
14.9. Рентгеновские детекторы
14.10. Применение в химико-аналитических целях
14.11. Рентгенофлуоресцентный анализ с полным внутренним отражением
14.12. Измерение толщины слоя по методу рентгеновской флуоресценции
14.13. Новые разработки в рентгеновской спектрометрии
14.14. Резюме и перспективы развития рентгенофлуоресцентного анализа
Глава 15. Методы анализа поверхности
15.1. Методы анализа поверхности
15.2. Рентгеновский микроанализ с дисперсией по энергии
15.3. Индуцированная протонами рентгеновская эмиссия
15.4. Оже-электронная спектроскопия
15.5. Электронная спектроскопия для химического анализа
15.6. Масс-спектрометрия вторичных ионов
15.7. Спектроскопия ионного рассеяния
15.8. Микроскопия с растровыми зондами
Глава 16. Заключение
Литература
Дополнительная литература
Список фирм

Все отзывы о книге

Чтобы оставить отзыв, зарегистрируйтесь или войдите