Артикул: 77454

Технологии защиты микросхем от обратного проектирования в контексте информационной безопасности

Автор: Федорец В. Н. , Белов Е. Н. , Балыбин С. В.

Год: 2019

Издательство: Техносфера

Место издания: Москва

ISBN: 978-5-94836-562-6

Страниц: 216

Форматы: PDF

цена: 599 руб.

В книге рассмотрены вопросы обеспечения информационной безопасности современной электронной компонентной базы, используемой при разработке радиоэлектронной аппаратуры различного назначения. Особое внимание уделено вопросам уязвимости, возникающим при разработке и изготовлении микросхем, создаваемых по fabless-технологии. Авторами рассмотрены инженерно-технические и организационно-методические решения по защите от обратного проектирования современных микросхем. Книга может быть полезна специалистам в области микроэлектроники, разработчикам отечественной элементной базы, а также студентам, обучающимся по специальностям, связанным с разработкой микросистем и информационной безопасностью.

Предисловие
Список использованных сокращений
Введение
РАЗДЕЛ 1. Вопросы информационной безопасности и обратное проектирование микросхем
1.1. Глобализация в микроэлектронике – основная тенденция ее развития
1.2. Могут ли содержать угрозы изделия микроэлектроники
1.2.1. Проблема контрафактных изделий микроэлектроники в России
1.2.2. Практические шаги к выявлению контрафакта
1.3. Угроза снижения безопасности изделий микроэлектроники злоумышленниками
1.4. Роль «доверия» при анализе информационной безопасности микросхем
1.4.1. «Доверие» и защищенность систем
1.4.2. Особенности угроз в области модулей доверенной загрузки и связь с обратным проектированием микросхем
РАЗДЕЛ 2. Обратное проектирование микросхем и защита от него
2.1. Цели и задачи обратного проектирования изделий микроэлектроники
2.2. Обратное проектирование микросхем и его возможности
2.2.1. Основные этапы обратного проектирования микросхем
2.2.2. Оценка возможностей обратного проектирования применительно к микросхемам, используемым в аппаратуре ответственного применения, разрабатываемой в России
2.3. Защита от анализа структуры микросхемы
2.3.1. Защита от удаления корпуса и защитного покрытия
2.3.2. Защита микросхем от послойного восстановления топологии
2.3.3. Защита микросхем от обратного проектирования с помощью разрушения объекта исследования
2.3.4. Защита микросхем от обратного проектирования с помощью экранирования и камуфлирования
2.4. Защита от анализа функций микросхемы
2.5. Экономический аспект обратного проектирования
РАЗДЕЛ 3. Информационная безопасность в контексте защиты интеллектуальной собственности в микросхемах
3.1. Общие вопросы идентификации микросхем
3.2. Кремниевая фабрика как потенциальный нарушитель
3.3. Специализированные блоки идентификации
3.4. Использование обфускации при защите микросхем
3.5. Идентификация и аутентификация изделий микроэлектроники на основе физически неклонируемых функций
3.5.1. Краткая характеристика ФНФ
3.5.2. Подход к использованию ФНФ в случае недоверия к кремниевой фабрике
3.6. Скрытые метки для защиты собственной продукции
РАЗДЕЛ 4. Контроль однородности партий микросхем и радиоэлектронной аппаратуры путем измерения s-параметров (радиопортрета) четырехполюсника
4.1. Исследование s-параметров усилителя в корпусе
4.2. Исследование s-параметров микросхемы ПЛИС
РАЗДЕЛ 5. Аппаратно-программная целостность программируемых логических интегральных схем в контексте обратного проектирования
5.1. Обратное проектирование ПЛИС: история и угрозы
5.1.1. Обратное проектирование конфигурационного битового потока ПЛИС
5.1.2. Защита от обратного проектирования конфигурационного битового потока ПЛИС
5.2. Технические параметры ПЛИС и особенности объектов, для которых необходим контроль целостности
5.3. Особенности обеспечения контроля целостности для высокоскоростных и многоядерных решений на базе ПЛИС
5.4. Перспективы применения криптографии для контроля целостности
5.5. Определение необходимых для реализации механизмов контроля аппаратной целостности конфигурационных данных
5.6. Система оценок для определения уровня контроля целостности конфигурационных данных ПЛИС
Заключение
Список рисунков
Список таблиц
Список литературы
Приложение A. «Иностранное» и «отечественное» производство: от диалектической борьбы к словесной казуистике
Приложение B. Полезные термины и определения

Все отзывы о книге

Чтобы оставить отзыв, зарегистрируйтесь или войдите

Рецензии на книгу

Чтобы писать рецензии и получать вознаграждения за рекомендации книг, станьте экспертом

Книги этой серии

Бестселлеры