Радиационные воздействия излучений на материалы электронной техники
книга

Радиационные воздействия излучений на материалы электронной техники : оксид бериллия

Место издания: Екатеринбург

ISBN: 978-5-7996-2601-3

Страниц: 323

Артикул: 100523

цена: 484.5
Купить и скачать Читать фрагмент

Учебное пособие «Радиационные воздействия излучений на материалы электронной техники. Оксид бериллия» направлено на развитие у студентов навыков создания теоретических и математических моделей и методов расчета современных физических установок и устройств автоматики физических установок, приборов радиационной безопасности человека и окружающей среды, а также различных приборов биофизического и медицинского назначения.

Предисловие
1. Радиационные воздействия излучения на материалы и компоненты микроэлектронной техники
1.1. Влияние радиации на материалы электронной техники
1.2. Радиационные эффекты в МОП-структурах
1.3. Радиационные эффекты в биполярных транзисторах
1.4. Пути повышения радиационной стойкости компонентов
2. Оксид бериллия. Получение и свойства
2.1. Общая характеристика
2.2. Кристаллическая структура
2.3. Кристаллофизика и динамика решетки
2.4. Методы получения BeO
3. Энергетическая структура и электронные возбуждения
3.1. Квантово-химические расчеты электронной структуры
3.2. Элементарные электронные возбуждения
3.3. Спектры оптических постоянных и потерь энергии
4. Сосуществование СЭ и АЛЭ
4.1. Автолокализация электронных возбуждений
4.2. Сосуществование СЭ и АЛЭ в BeO
4.3. Короткоживущее оптическое поглощение АЛЭ в BeO
4.4. Поляризованная люминесценция АЛЭ
4.5. Околопримесные экситоны в BeO
4.6. Особенности автолокализации экситонов в оксидах
5. Дефекты решетки
5.1. Кристаллохимические аспекты дефектообразования
5.2. Собственные и примесные точечные дефекты
5.3. Комплексные дефекты
6. Оптические переходы и электронная структура дефектов
6.1. Оптические переходы в точечных дефектах
6.2. Люминесценция точечных дефектов
6.3. Электронная структура дефектов
7. Накопление, отжиг и трансформация дефектов
7.1. Биографические дефекты
7.2. Накопление радиационных дефектов
7.3. Отжиг и трансформация радиационных дефектов
8. Флуктуационное разупорядочение BeO
8.1. Флуктуационная перестройка и особенности динамики решетки
8.2. Спонтанная эмиссия BeO и флуктуационная перестройка
8.3. Особенности ТСЛ в области трансформации АЛЭ
Заключение
Список библиографических ссылок
Предметно-именной указатель
Приложения
А. Электронное строение оксида бериллия
Б. Точечные дефекты оксида бериллия
В. Электронная структура точечных дефектов
Г. Температурные границы проявления «аномалий» в BeO

Все отзывы о книге

Чтобы оставить отзыв, зарегистрируйтесь или войдите