0
Исследование топологии поверхности методом сканирующей туннельной микроскопии
Информация о книге:

Издательство: МИФИ

Год: 2008

ISBN: 978-5-7262-0990-6

Кол-во страниц: 48

Формат: pdf

Исследование топологии поверхности методом сканирующей туннельной микроскопии

Елманов Г. Н. , Логинов Б. А.

(0)

Порекомендовать в соцсетях

Аннотация
В пособии приведено описание устройства, программного обеспечения и порядка работы на сканирующем мультимикроскопе СММ-2000 в режиме туннельной микроскопии. Подробно изложена методика запуска и пошаговой настройки микроскопа, а также получения и оптимизации изображений. На конкретном примере рассмотрены возможности анализа изображения с целью определения шероховатости поверхности и исследования морфологических особенностей структурно-фазовых составляющих образца. Даны порядок выполнения лабораторной работы, требования к оформлению отчета, а также контрольные вопросы.
Предназначено для студентов МИФИ, обучающихся по специальностям "Физика металлов" и "Физика конденсированного состояния". Используется в дисциплинах "Наноматериалы и нанотехнологии" и "Физические методы исследований".